DI040N10D1-AQ
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)
(Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung DI040N10D1-AQ
MOSFET, DPAK, N, 100V, 40A, 17mΩ, 175°C, AEC-Q101
Mindestbestellmenge 2.500
Bestand 0
Zollnummer 85412900
RoHS compliant with exemption 7(a)-I
REACH declarable
Bleifrei Nein
Halogenfrei Nein

Verfügbarkeit bei Distributoren

Technische Daten

Artikelnummer DI040N10D1-AQ
DI040N10D1-AQ Single
Typ SMD
Gehäuse TO-252AA/D-PAK
Qualification AEC-Q101
Config Single
Life Cycle active
ESD sensitive Nein
MSL 3
 
ESD Schutz ESD protected Nein
Polarität pol N
Drain-Source-Spannung VDS 100 V
Drainstrom 25°C ID 40.000 A
On-Widerstand 1 RDSon1 0.01700
@ ID 28.000 A
@ VGS 10 V
Drainstrom 100°C ID 28.000 A
On-Widerstand 2 RDSon2
@ ID
@ VGS
Sperrschicht Temperatur Tjmin
Tjmax 175 °C
Verlustleistung Ptot 37.500 W
@ TLoc
Location
Avalanche Nein
Drain-Spitzenstrom IDM 160.000 A
@ tp
Schwellspannung VGSth min 1.2 V
VGSth max 2.5 V
Einschaltverzögerung tD(on)
Anstiegszeit tr
Ausschaltverzögerung tD(off)
Abfallzeit tf
Gesamte Gate-Ladung (10V) Qg (10V) 15.5 nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V) Qg (4.5V)
Gate-Drain Ladung Qgd 0 nC
Einzelpuls Avalanche-Energie Eas 64.0 mJ
Eingangskapazität Ciss 1192 pF
Ausgangskapazität Coss 421 pF
Rückwirkungskapazität Crss 34 pF
Sperrverzugsladung Qrr 32 nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse UL94-V0 Nein
Nettogewicht mnet
Kennzeichnung Marking
Wärmewiderst. Sperrschicht RTH
Location
UL anerkannt UL-Recognition
Wärmewiderst. Sperrschicht (b) RTH
Location
Lagerungstemperatur Tsmin
Tsmax
Löt- und Einbaubedingungen Solder & Assembly
Gate-Source Leckstrom IGSS
@ VGS
Drain-Source Leckstrom IDSS
@ VDS
Gate-Source-Spannung DC VGSS
Gate-Source-Spannung ESD VGSS
Übertragungssteilheit gfs
Intrinsic gate resistance RGi

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