DI028N10PQ2
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)
(Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung DI028N10PQ2
MOSFET, PowerQFN 5x6-Dual, N+N, 100V, 28A
Mindestbestellmenge 5.000
Bestand 0
Zollnummer 85412900
RoHS compliant with exemption 7(a)-I
REACH declarable
Bleifrei Nein
Halogenfrei Nein

Verfügbarkeit bei Distributoren

Technische Daten

Artikelnummer DI028N10PQ2
DI028N10PQ2 Dual
Typ SMD
Gehäuse PowerQFN 5x6-Dual
Qualification Industrial Grade
Config Dual
Life Cycle engineering sample
ESD sensitive Nein
MSL 3
 
ESD Schutz ESD protected Nein
Polarität pol N+N
Drain-Source-Spannung VDS 100 V
Drainstrom 25°C ID 28.000 A
On-Widerstand 1 RDSon1 0.0210
@ ID 7 A
@ VGS 10 V
Drainstrom 100°C ID
On-Widerstand 2 RDSon2
@ ID
@ VGS
Sperrschicht Temperatur Tjmin
Tjmax 150 °C
Verlustleistung Ptot 28.000 W
@ TLoc
Location
Avalanche Nein
Drain-Spitzenstrom IDM 130.000 A
@ tp
Schwellspannung VGSth min
VGSth max 2.5 V
Einschaltverzögerung tD(on)
Anstiegszeit tr
Ausschaltverzögerung tD(off)
Abfallzeit tf
Gesamte Gate-Ladung (10V) Qg (10V)
Gesamte Gate-Ladung (4.5V) Qg (4.5V)
Gate-Drain Ladung Qgd
Einzelpuls Avalanche-Energie Eas
Eingangskapazität Ciss
Ausgangskapazität Coss
Rückwirkungskapazität Crss
Sperrverzugsladung Qrr
Flammbarkeitsklasse Gehäuse UL94-V0 Nein
Nettogewicht mnet
Kennzeichnung Marking
Wärmewiderst. Sperrschicht RTH
Location
UL anerkannt UL-Recognition
Wärmewiderst. Sperrschicht (b) RTH
Location
Lagerungstemperatur Tsmin
Tsmax
Löt- und Einbaubedingungen Solder & Assembly
Gate-Source Leckstrom IGSS
@ VGS
Drain-Source Leckstrom IDSS
@ VDS
Gate-Source-Spannung DC VGSS
Gate-Source-Spannung ESD VGSS
Übertragungssteilheit gfs
Intrinsic gate resistance RGi

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