DIW012N65
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)
(Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung DIW012N65
MOSFET, TO-247-3L, N, 650V, 12A, 0.19Ω, 150°C
Mindestbestellmenge 450
Bestand 0
Zollnummer 85412900
RoHS compliant with exemption 7(a)-I
REACH declarable
Bleifrei Nein
Halogenfrei Nein

Verfügbarkeit bei Distributoren

Technische Daten

Artikelnummer DIW012N65
DIW012N65 Single
Typ Wire-lead
Gehäuse TO-247-3L
Qualification Industrial Grade
Config Single
Life Cycle engineering sample
ESD sensitive Nein
MSL n/a
 
ESD Schutz ESD protected Nein
Polarität pol N
Drain-Source-Spannung VDS 650 V
Drainstrom 25°C ID 12.000 A
On-Widerstand 1 RDSon1 0.1900
@ ID 10 A
@ VGS 4.5 V
Drainstrom 100°C ID 7.500 A
On-Widerstand 2 RDSon2
@ ID
@ VGS
Sperrschicht Temperatur Tjmin
Tjmax 150 °C
Verlustleistung Ptot 125.000 W
@ TLoc
Location
Avalanche Ja
Drain-Spitzenstrom IDM 60.000 A
@ tp
Schwellspannung VGSth min 2.0 V
VGSth max 4.0 V
Einschaltverzögerung tD(on) 60 ns
Anstiegszeit tr 22 ns
Ausschaltverzögerung tD(off) 60 ns
Abfallzeit tf 28 ns
Gesamte Gate-Ladung (10V) Qg (10V) 45.0 nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V) Qg (4.5V)
Gate-Drain Ladung Qgd 21 nC
Einzelpuls Avalanche-Energie Eas 988.0 mJ
Eingangskapazität Ciss 1479 pF
Ausgangskapazität Coss 91 pF
Rückwirkungskapazität Crss 10 pF
Sperrverzugsladung Qrr 5 nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse UL94-V0 Nein
Nettogewicht mnet
Kennzeichnung Marking
Wärmewiderst. Sperrschicht RTH
Location
UL anerkannt UL-Recognition
Wärmewiderst. Sperrschicht (b) RTH
Location
Lagerungstemperatur Tsmin
Tsmax
Löt- und Einbaubedingungen Solder & Assembly
Gate-Source Leckstrom IGSS
@ VGS
Drain-Source Leckstrom IDSS
@ VDS
Gate-Source-Spannung DC VGSS
Gate-Source-Spannung ESD VGSS
Übertragungssteilheit gfs
Intrinsic gate resistance RGi

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