DI065N08D1
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)
(Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung DI065N08D1
MOSFET, DPAK, N, 80V, 65A, 7mΩ, 150°C
Mindestbestellmenge 2.500
Bestand 0
Zollnummer 85412900
RoHS compliant with exemption
REACH declarable
Bleifrei Nein
Halogenfrei Nein

Verfügbarkeit bei Distributoren

Technische Daten

Artikelnummer DI065N08D1
DI065N08D1 Single
Typ SMD
Gehäuse TO-252AA/D-PAK
Qualification Industrial Grade
Config Single
Life Cycle engineering sample
ESD sensitive Nein
MSL 3
 
ESD Schutz ESD protected Nein
Polarität pol N
Drain-Source-Spannung VDS 80 V
Drainstrom 25°C ID 65.000 A
On-Widerstand 1 RDSon1 0.0070
@ ID 20 A
@ VGS 10 V
Drainstrom 100°C ID 40.000 A
On-Widerstand 2 RDSon2 0.0095
@ ID 10.000 A
@ VGS 4.5 V
Sperrschicht Temperatur Tjmin
Tjmax 150 °C
Verlustleistung Ptot 50.400 W
@ TLoc
Location
Avalanche Ja
Drain-Spitzenstrom IDM 300.000 A
@ tp
Schwellspannung VGSth min 1.2 V
VGSth max 2.5 V
Einschaltverzögerung tD(on) 8 ns
Anstiegszeit tr 21 ns
Ausschaltverzögerung tD(off) 19 ns
Abfallzeit tf 45 ns
Gesamte Gate-Ladung (10V) Qg (10V) 35.0 nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V) Qg (4.5V)
Gate-Drain Ladung Qgd 8 nC
Einzelpuls Avalanche-Energie Eas 25.6 mJ
Eingangskapazität Ciss 1812 pF
Ausgangskapazität Coss 903 pF
Rückwirkungskapazität Crss 53 pF
Sperrverzugsladung Qrr 45 nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse UL94-V0 Nein
Nettogewicht mnet
Kennzeichnung Marking
Wärmewiderst. Sperrschicht RTH
Location
UL anerkannt UL-Recognition
Wärmewiderst. Sperrschicht (b) RTH
Location
Lagerungstemperatur Tsmin
Tsmax
Löt- und Einbaubedingungen Solder & Assembly
Gate-Source Leckstrom IGSS
@ VGS
Drain-Source Leckstrom IDSS
@ VDS
Gate-Source-Spannung DC VGSS
Gate-Source-Spannung ESD VGSS
Übertragungssteilheit gfs
Intrinsic gate resistance RGi

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