Neueste Meldungen von Diotec

Wir stellen Qualität nicht nur sicher – wir setzen auch auf Innovation.

Nehmen wir als Beispiel einen HTRB-Tester (High Temperature Reverse Bias). Er ist unverzichtbar für die Überprüfung der Langzeitzuverlässigkeit von Halbleiter-Dioden, Transistoren, MOSFETs und IGBTs unter extremen Betriebsbedingungen – hoher Spannung und hoher Temperatur.

Zuverlässigkeitsprüfungen sind ein wichtiger Schritt sowohl bei der Zulassung neuer Produkte als auch bei den täglichen Qualitätskontrollen in der Produktion. Bei Diotec gehen wir noch einen Schritt weiter:

• Wir entwickeln und fertigen unsere eigenen Lebensdauer-Tester, die speziell auf die von uns hergestellten Halbleiter zugeschnitten sind.
• Bauteile von Diotec sind in die Ansteuerschaltung integriert und werden so unter den rauen Bedingungen einer realen Anwendung getestet.

Hier typische Diotec-Bauteile, die in die Hauptsteuerplatine des HTRB-Testers eingebaut sind:

• 1N4148WS - Kleinsignaldiode, SOD-323F, 100V, 0.15A, 150°C
• SM4007 - Gleichrichter, Melf, 1000V, 1A, 175°C
• BZT52B15 - Zener Diode, SOD-123F, 15V, 0.5W, ±2%
• SL1M - Gleichrichter, SOD-123FL, 1000V, 1A, 150°C
• ZMD15B - Zener-Diode, MiniMelf, 15V, 1W, ±2%
• MM3Z4B7 - Zener-Diode, SOD-323F, 4.7V, 0.3W, ±5%, AEC-Q101
• Z1SMA6.8 - Zener-Diode, SMA, 6.8V, 1.5W, ±5%
• BC807-25 - Bipolartransistor, SOT-23, 45V, 800mA, PNP, 0.31W, 150°C 
• BC817-25 - Bipolartransistor, SOT-23, 45V, 800mA, NPN, 0.31W, 150°C
• BCM847BS - Bipolartransistor, SOT-363, 45V, 100mA, NPN, 0.25W, 150°C
• DI78L12UAB - Spannungsregler, SOT-89, 35V, 11.5V, 12.5V, 125°C, 6mA

Wenn wir sagen „auf Zuverlässigkeit geprüft“ dann meinen wir das auch so – mit maßgeschneiderter Technologie auf jeder Ebene.